最后编辑于: 2022-07-04 12:40 | 分类: 电子 | 标签: ADC | 浏览数: 1671 | 评论数: 0
例如 如下场景:
比如,SMT32内置的ADC的输入阻抗约为10K,要测量锂电池的电压,通常采用电阻分压的方法,如果外接的分压电阻无法远小于10K,则会因为AD的输入阻抗过小,输入阻抗对信号源信号电压造成分压,导致电压读取误差大。
如外接分压电阻选用远小于10K的电阻,在对功耗有要求的情况下,又不合适。此时可用大阻值电压分压后,使用电压跟随器进行阻抗匹配(电压跟随器输入阻抗高,输出阻抗低)。
对于ADC芯片,在选型时,要留意其类型(SAR型、开关电容型、FLASH型、双积分型、Sigma-Delta型),不同类型的ADC芯片输入阻抗不同:
a. 测量范围问题:SigmaDelta型ADC属于开关电容型输入,必须有低阻源。所以为了简化外部设计,内部大多集成有缓冲器。缓冲器打开,则对外呈现高阻,使用方便。但要注意了,缓冲器实际是个运放。那么必然有上下轨的限制。大多数缓冲器都是下轨50mV,上轨AVCC-1.5V。在这种应用中,共模输入范围大大的缩小,而且不能到测0V。一定要特别小心!一般用在电桥测量中,因为共模范围都在1/2VCC附近。不必过分担心缓冲器的零漂,通过内部校零寄存器很容易校正的;
b. 输入端有RC滤波器的问题:SigmaDelta型ADC属于开关电容型输入,在低阻源上工作良好。但有时候为了抑制共模或抑制乃奎斯特频率外的信号,需要在输入端加RC滤波器,一般DATASHEET上会给一张最大允许输入阻抗和C和Gain的关系表。这时很奇怪的一个特性是,C越大,则最大输入阻抗必须随之减小!刚开始可能很多人不解,其实只要想一下电容充电特性久很容易明白的。还有一个折衷的办法是,把C取很大,远大于几百万倍的采样电容Cs(一般4~20PF), 则输入等效纯电阻,分压误差可以用GainOffset寄存器校正。
c. 运放千万不能和SigmaDelta型ADC直连!前面说过,开关电容输入电路电路周期用采样电容从输入端采样,每次和运放并联的时候,会呈现低阻,和运放输出阻抗分压,造成电压下降,负反馈立刻开始校正,但运放压摆率(SlewRate)有限,不能立刻响应。于是造成瞬间电压跌落,取样接近完毕时,相当于高阻,运放输出电压上升,但压摆率使运放来不及校正,结果是过冲。而这时正是最关键的采样结束时刻。所以,运放和SD型ADC连接,必须通过一个电阻和电容连接(接成低通)。而RC的关系又必须服从datasheet所述规则。
d. 差分输入和双极性的问题:SD型ADC都可以差分输入,都支持双极性输入。但这里的双极性并不是指可以测负压,而是Vi+和Vi-两脚之间的电压。假设Vi-接AGND,那么负压测量范围不会超过-0.3V。正确的接法是Vi+ Vi-共模都在-0.3~VCC之间差分输入。一个典型的例子是电桥。
另外 : 关于ADC的模拟输入前 加上 运放(不论是 基于运放的电压跟随器 还是 直接使用运放来放大信号,本质都是加运放)时的注意事项, 见TI官网的这篇文章https://e2echina.ti.com/blogs_/b/analogwire/posts/51569